NMX-R-62622-SCFI/ANCE-2014

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Nanotecnologías – Descripción, medición y descripción de parámetros de calidad dimensional de rejillas artificiales

 

Nanotechnologies — Description, measurement and dimensional quality parameters of artificial gratings

Objetivo y campo de aplicación

Esta norma mexicana especifica la terminología genérica aplicable a los parámetros de
calidad globales y locales de rejillas artificiales expresados en términos de desviaciones
respecto a las posiciones nominales de los elementos geométricos de la rejilla, y orienta
sobre la categorización de métodos de medición y evaluación aplicables a la calibración y
caracterización de rejillas artificiales.
Paginas

53
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PDF, Suscripción anual

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